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SurfaceSTAR SIS

该检测系统可靠地检测缺陷,并使用SMASH软件进行复杂的改造。

SurfaceSTAR SIS (Surface Inspection System)

SurfaceSTAR SIS是专门为集成商设计的光学检查解决方案。它由符合ISRA高质量嵌入式摄像头标准的摄像头组成,具有大的性能和成熟的照明技术,从一开始就补充了每一个生产系统。

先进的SMASH软件和Touch&Inspect图形用户界面是SurfaceSTAR SIS的补充。检测系统可靠地检测到约150µm的缺陷尺寸。

  • 自动调节功
  • 即插即用概念
  • 新的软件
  • 有竞争力的价格获得良好性能
  • 出色的分类能力

探索SurfaceSTAR SIS的全部应用

薄膜、箔材和片材

全新的SurfaceSTAR卷材检测系统旨在直接集成到吹膜/流延薄膜生产线中。省去复杂的改 装。

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